¿Cuáles son las mejores prácticas para usar la microscopía electrónica de barrido?

2 Configuración de SEM

Una vez que sus muestras estén listas, debe optimizar la configuración de SEM para lograr la mejor calidad y resolución de imagen. Hay que tener en cuenta varios factores, como la tensión de aceleración, el tamaño del punto, la distancia de trabajo, la velocidad de escaneo y el tipo de detector. El voltaje de aceleración determina la energía y la profundidad de penetración del haz de electrones, lo que afecta el contraste y la relación señal-ruido de sus imágenes. El tamaño del punto se refiere al diámetro del haz de electrones en la superficie de la muestra, lo que afecta a la resolución y la corriente de las imágenes. La distancia de trabajo es la distancia entre la lente final y la muestra, que afecta la profundidad de campo y el campo de visión de sus imágenes. La velocidad de escaneo es el tiempo que se tarda en escanear una línea o fotograma de las imágenes, lo que afecta al tiempo de permanencia y a la calidad de la imagen. El tipo de detector determina el tipo de señal que se recoge de las muestras, lo que afecta a la información y al contraste de las imágenes. Por ejemplo, puede usar un electrón secundario (SE) detector para capturar la topografía de la superficie de sus nanomateriales, o un electrón retrodispersado (EEB) detector para capturar las variaciones composicionales de sus nanomateriales.

3 Interpretación de imágenes

Después de obtener sus imágenes SEM, debe interpretarlas cuidadosa y críticamente. Debes ser consciente de la escala, la orientación, la perspectiva y la distorsión de tus imágenes, y compararlas con otras fuentes de información, como la literatura, la teoría u otras técnicas de caracterización. También debe ser capaz de identificar y explicar las características, patrones y defectos de sus nanomateriales, como su tamaño, forma, distribución, orientación, cristalinidad, porosidad o rugosidad de la superficie. Además, debe ser capaz de reconocer y evitar los artefactos y errores que pueden surgir de su operación SEM, como la carga, la contaminación, la deriva, el efecto de borde o el daño del haz.

4 Análisis SEM

Además de la obtención de imágenes, SEM también puede proporcionar análisis cuantitativos y cualitativos de sus nanomateriales, como su composición elemental, estado químico o estructura cristalina. Puede utilizar diferentes técnicas que se combinan con SEM, como la espectroscopia de rayos X de dispersión de energía (EDS), espectroscopía de rayos X de dispersión de longitud de onda (WDS), difracción de retrodispersión de electrones (EBSD), o cátodoluminiscencia (CL). Sin embargo, para realizar estos análisis, debe seguir algunos protocolos y precauciones específicos, como elegir el área de análisis adecuada, ajustar los parámetros de análisis, calibrar el instrumento y validar los datos. También es necesario estar familiarizado con los principios, limitaciones y aplicaciones de cada técnica, y cómo interpretar y presentar los resultados.

5 Mantenimiento SEM

Por último, es necesario mantener el SEM de forma adecuada y regular para garantizar su rendimiento y longevidad. Debe seguir las instrucciones del fabricante y las normas de seguridad al usar y almacenar su SEM. También debe verificar y limpiar los componentes y accesorios de su SEM, como el sistema de vacío, el cañón de electrones, las lentes, los detectores, la platina y los portamuestras. Además, debe monitorear y registrar las condiciones de operación y los indicadores de rendimiento de su SEM, como el nivel de vacío, la corriente de emisión, la alineación, la resolución y la estabilidad. Si encuentra algún problema o mal funcionamiento con su SEM, debe solucionarlo de inmediato y ponerse en contacto con el soporte técnico si es necesario.

6 Esto es lo que hay que tener en cuenta

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